Неразрушающий метод обнаружения внутренних трещин в семенах риса

Команда под руководством профессоров Ван Жуцзина и Ван Люсаня из Хэфэйского института физических наук Китайской академии наук разработала метод обнаружения внутренних трещин в семенах риса с использованием спектроскопии ближнего инфракрасного диапазона.

«Трещины могут влиять на всхожесть семян. Наше исследование может помочь в отборе высококачественных семян неразрушающим методом», — заявил Ван Люсань.

Результаты исследования опубликованы в журнале Spectrochimica Acta Part A: Molecular and Biomolecular Spectroscopy.

Внутренние трещины в семенах риса часто трудно обнаружить невооруженным глазом, что создает проблему для оценки их качества.

В данном исследовании ученые применили алгоритмы машинного обучения для классификации в сочетании с методами предварительной обработки спектров для построения моделей. Производительность моделей сравнили, чтобы получить оптимальную.

Результаты показывают, что наиболее эффективной является комбинация дискриминации методом частичных наименьших квадратов и модели исходных спектральных данных. Хотя лучшая модель на основе метода опорных векторов показала невысокую эффективность, она все же превзошла модели на основе случайного леса и метода k-ближайших соседей.

Анализ важности длин волн показал, что ключевые переменные для обнаружения внутренних трещин в семенах риса связаны с содержанием амилозы.

По словам исследователей, применение этой технологии не только повышает эффективность и точность оценки качества семян риса, но и предоставляет новые технологические средства для контроля качества семян в сельскохозяйственном производстве.